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更新時(shí)間：2024-02-27
DRK-W系列 G/BT 19077.1-2008 德瑞克激光粒度分析儀，設(shè)備的高品質(zhì)和所測(cè)樣品的廣泛性使得它在實(shí)驗(yàn)室的實(shí)驗(yàn)研究和工業(yè)生產(chǎn)的質(zhì)量控制等諸多領(lǐng)域中得到了廣泛的應(yīng)用。例如：材料、化工、制藥、精細(xì)陶瓷、建材、石油、電力、冶金、食品、化妝品、高分子、油漆、涂料、碳黑、高嶺土、氧化物、碳酸鹽、金屬粉末、耐火材料、添加劑等以顆粒物作為生產(chǎn)原材料、產(chǎn)品、中間體等。
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DRK-W系列 G/BT 19077.1-2008 德瑞克激光粒度分析儀，設(shè)備的高品質(zhì)和所測(cè)樣品的廣泛性使得它在實(shí)驗(yàn)室的實(shí)驗(yàn)研究和工業(yè)生產(chǎn)的質(zhì)量控制等諸多領(lǐng)域中得到了廣泛的應(yīng)用。例如：材料、化工、制藥、精細(xì)陶瓷、建材、石油、電力、冶金、食品、化妝品、高分子、油漆、涂料、碳黑、高嶺土、氧化物、碳酸鹽、金屬粉末、耐火材料、添加劑等以顆粒物作為生產(chǎn)原材料、產(chǎn)品、中間體等。
DRK-W系列 G/BT 19077.1-2008 德瑞克激光粒度分析儀，技術(shù)參數(shù):
型號(hào) | DRK-W1 | DRK-W2 | DRK-W3 | DRK-W4 |
理論依據(jù) | Mie散射理論 | |||
粒徑測(cè)量范圍 | 0.1-200um | 0.1-400um | 0.1-600um | 0.1-1000um |
光源 | 半導(dǎo)體制冷恒溫控制紅光固體激光光源，波長(zhǎng)635nm | |||
重復(fù)性誤差 | <1%（標(biāo)準(zhǔn)D50偏差） | |||
測(cè)量誤差 | <1%（標(biāo)準(zhǔn)D50偏差，用國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)顆粒檢驗(yàn)） | |||
檢測(cè)器 | 32或48通道硅光電二極管 | |||
樣品池 | 固定樣品池、循環(huán)樣品池（內(nèi)置超聲分散裝置） | |||
測(cè)量分析時(shí)間 | 正常條件下小于1分鐘（從開始測(cè)量到顯示分析結(jié)果） | |||
輸出內(nèi)容 | 體積、數(shù)量微分分布和累積分布表和圖表；多種統(tǒng)計(jì)平均直徑；操作者信息；實(shí)驗(yàn)樣品信息、分散介質(zhì)信息等。 | |||
顯示方式 | 內(nèi)嵌10.8寸工業(yè)級(jí)別的電腦，可連接鍵盤、鼠標(biāo)、U盤 | |||
電腦系統(tǒng) | WIN 10系統(tǒng)，30GB硬盤容量、2GB系統(tǒng)內(nèi)存 | |||
電源 | 220V，50 Hz | |||
DRK-W系列 德瑞克激光粒度分析儀工作條件:
1.室內(nèi)溫度：15℃-35℃
2.相對(duì)溫度：不大于85%（無冷凝）
3.建議用交流穩(wěn)壓電源1KV，無強(qiáng)磁場(chǎng)干擾。
4.由于在微米級(jí)的范圍內(nèi)的測(cè)量，儀器應(yīng)放在堅(jiān)固可靠、無振動(dòng)的工作臺(tái)上，并且在少塵條件下進(jìn)行測(cè)量。
5.儀器不應(yīng)放在太陽直射、風(fēng)大或溫度變化大的場(chǎng)所。
6.設(shè)備必須接地，保證安全和高精度。
7.室內(nèi)應(yīng)清潔、防塵、無腐蝕性氣體。
注：因技術(shù)進(jìn)步更改資料，恕不另行通知，產(chǎn)品以后期實(shí)物為準(zhǔn)。
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